OpenCV圖像閾值分割算法在低算力嵌入式平臺的優(yōu)化實踐（三）

OpenCV圖像閾值分割算法在低算力嵌入式平臺的優(yōu)化實踐（二）

OpenCV圖像閾值分割算法在低算力嵌入式平臺的優(yōu)化實踐（一）

PCB阻抗控制閉環(huán)驗證：從TDR測量到參數(shù)優(yōu)化的實戰(zhàn)路徑

在5G基站、高速服務器等高頻場景中，PCB阻抗偏差超過5%可能導致信號失真、眼圖塌陷。本文介紹一種基于TDR測量與疊層參數(shù)反推的閉環(huán)驗證方法，通過Python腳本實現(xiàn)自動參數(shù)優(yōu)化，將阻抗誤差控制在工程允許范圍內。

EDA團隊協(xié)作方案：Git版本控制與設計數(shù)據同步最佳實踐

在集成電路設計（EDA）領域，團隊協(xié)作面臨設計文件龐大、版本迭代頻繁、依賴關系復雜等挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)基于共享文件夾或本地備份的協(xié)作方式易導致文件沖突、歷史丟失等問題。Git作為分布式版本控制系統(tǒng)，結合EDA工具特性進行定制化配置，可顯著提升團隊協(xié)作效率。本文從工程實踐角度探討Git在EDA場景中的應用方案。

FPGA在線調試技巧：SignalTap邏輯分析儀與虛擬I/O配置

在FPGA開發(fā)過程中，在線調試是驗證設計功能、定位問題的關鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)調試方法依賴外接邏輯分析儀，存在成本高、操作復雜、信號易受干擾等問題。而嵌入式調試工具如SignalTap邏輯分析儀和虛擬I/O（VIO）核，通過JTAG接口直接訪問FPGA內部信號，成為現(xiàn)代FPGA調試的主流方案。

EDA布局布線參數(shù)調優(yōu)：Congestion Map分析與繞線策略調整

在先進工藝節(jié)點（如7nm及以下）的FPGA/ASIC設計中，布局布線階段的擁塞（Congestion）問題已成為制約時序收斂與良率的關鍵因素。通過EDA工具生成的Congestion Map可視化分析，結合針對性繞線策略調整，可顯著提升設計可布線性。本文以Cadence Innovus和Synopsys ICC II為例，解析擁塞優(yōu)化實戰(zhàn)方法。

如何通過互斥鎖來安全地保護共享的 ADC 數(shù)據，同時多個任務能夠實時讀取、打印并控制 LED

該項目展示了在基于 FreeRTOS 的系統(tǒng)(運行于 Arduino Uno 上)中實現(xiàn)安全的數(shù)據共享訪問的實現(xiàn)方式。

FPGA IP核復用實戰(zhàn)：AXI總線接口配置與中斷處理模塊封裝

在FPGA開發(fā)中，IP核復用是提升開發(fā)效率、降低設計風險的核心技術。AXI總線作為ARM與Xilinx聯(lián)合推出的高性能片上總線標準，已成為IP核互連的首選接口。本文以Xilinx Vitis環(huán)境為例，解析AXI總線配置與中斷處理模塊封裝的實戰(zhàn)技巧，助力工程師快速構建可復用的IP核。

PCB電磁兼容性提升：共模電感選型與布線隔離帶設計

在電子設備高速發(fā)展的今天，PCB（印刷電路板）的電磁兼容性（EMC）已成為影響產品可靠性的核心指標。共模電感選型與布線隔離帶設計作為抑制共模噪聲的關鍵手段，其技術細節(jié)直接影響系統(tǒng)抗干擾能力。本文從選型參數(shù)匹配與布局隔離策略兩個維度，解析PCB電磁兼容性提升的核心方法。