在5G基站、高速服務器等高頻場景中,PCB阻抗偏差超過5%可能導致信號失真、眼圖塌陷。本文介紹一種基于TDR測量與疊層參數(shù)反推的閉環(huán)驗證方法,通過Python腳本實現(xiàn)自動參數(shù)優(yōu)化,將阻抗誤差控制在工程允許范圍內(nèi)。
在集成電路設計(EDA)領域,團隊協(xié)作面臨設計文件龐大、版本迭代頻繁、依賴關系復雜等挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)基于共享文件夾或本地備份的協(xié)作方式易導致文件沖突、歷史丟失等問題。Git作為分布式版本控制系統(tǒng),結合EDA工具特性進行定制化配置,可顯著提升團隊協(xié)作效率。本文從工程實踐角度探討Git在EDA場景中的應用方案。
在FPGA開發(fā)過程中,在線調試是驗證設計功能、定位問題的關鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)調試方法依賴外接邏輯分析儀,存在成本高、操作復雜、信號易受干擾等問題。而嵌入式調試工具如SignalTap邏輯分析儀和虛擬I/O(VIO)核,通過JTAG接口直接訪問FPGA內(nèi)部信號,成為現(xiàn)代FPGA調試的主流方案。
在先進工藝節(jié)點(如7nm及以下)的FPGA/ASIC設計中,布局布線階段的擁塞(Congestion)問題已成為制約時序收斂與良率的關鍵因素。通過EDA工具生成的Congestion Map可視化分析,結合針對性繞線策略調整,可顯著提升設計可布線性。本文以Cadence Innovus和Synopsys ICC II為例,解析擁塞優(yōu)化實戰(zhàn)方法。