在5G基站、高速服務(wù)器等高頻場(chǎng)景中,PCB阻抗偏差超過(guò)5%可能導(dǎo)致信號(hào)失真、眼圖塌陷。本文介紹一種基于TDR測(cè)量與疊層參數(shù)反推的閉環(huán)驗(yàn)證方法,通過(guò)Python腳本實(shí)現(xiàn)自動(dòng)參數(shù)優(yōu)化,將阻抗誤差控制在工程允許范圍內(nèi)。
在集成電路設(shè)計(jì)(EDA)領(lǐng)域,團(tuán)隊(duì)協(xié)作面臨設(shè)計(jì)文件龐大、版本迭代頻繁、依賴關(guān)系復(fù)雜等挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)基于共享文件夾或本地備份的協(xié)作方式易導(dǎo)致文件沖突、歷史丟失等問(wèn)題。Git作為分布式版本控制系統(tǒng),結(jié)合EDA工具特性進(jìn)行定制化配置,可顯著提升團(tuán)隊(duì)協(xié)作效率。本文從工程實(shí)踐角度探討Git在EDA場(chǎng)景中的應(yīng)用方案。
在FPGA開(kāi)發(fā)過(guò)程中,在線調(diào)試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)功能、定位問(wèn)題的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)調(diào)試方法依賴外接邏輯分析儀,存在成本高、操作復(fù)雜、信號(hào)易受干擾等問(wèn)題。而嵌入式調(diào)試工具如SignalTap邏輯分析儀和虛擬I/O(VIO)核,通過(guò)JTAG接口直接訪問(wèn)FPGA內(nèi)部信號(hào),成為現(xiàn)代FPGA調(diào)試的主流方案。
在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)(如7nm及以下)的FPGA/ASIC設(shè)計(jì)中,布局布線階段的擁塞(Congestion)問(wèn)題已成為制約時(shí)序收斂與良率的關(guān)鍵因素。通過(guò)EDA工具生成的Congestion Map可視化分析,結(jié)合針對(duì)性繞線策略調(diào)整,可顯著提升設(shè)計(jì)可布線性。本文以Cadence Innovus和Synopsys ICC II為例,解析擁塞優(yōu)化實(shí)戰(zhàn)方法。