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基于A/D轉(zhuǎn)換器IC層疊并聯(lián)實(shí)現(xiàn)通道倍擴(kuò)展
1 引 言 A/D轉(zhuǎn)換器是數(shù)據(jù)采集中常用的模/數(shù)轉(zhuǎn)換器件，對于具有檢測功能的智能儀表來說，設(shè)計(jì)者總希望在硬件電路板的最小面積內(nèi)獲得更多的檢測通道。本文以MCS-51和AD
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