低功耗性能是提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的重要手段
汽車(chē)零部件低功耗測(cè)試三大難點(diǎn)
STM32F103VCT6低功耗測(cè)試(待機(jī)模式)
世強(qiáng)開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室活動(dòng)日,解決超低功耗測(cè)試和電池性能測(cè)試難題
STM32L152的低功耗測(cè)試
世強(qiáng)-是德開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室:免費(fèi)為企業(yè)進(jìn)行低功耗測(cè)試
車(chē)位檢測(cè)器低功耗測(cè)試方案
基于FPGA的準(zhǔn)單輸入調(diào)變序列生成器設(shè)計(jì)
生產(chǎn)制造中的低功耗測(cè)試方法
開(kāi)關(guān)電源遠(yuǎn)程技術(shù)支持STM32G474的HRTIM配置(cubeMX)
預(yù)算:¥500基于RK3588調(diào)試藍(lán)牙獲取數(shù)據(jù)后轉(zhuǎn)spi和串口
預(yù)算:¥5000開(kāi)發(fā)一套互感器監(jiān)測(cè)系統(tǒng),包含軟硬件
預(yù)算:¥600000上位機(jī)控制的防震車(chē)規(guī)級(jí)電磁爐項(xiàng)目
預(yù)算:¥50000