在電子設(shè)備研發(fā)與生產(chǎn)中,低阻值電阻的精確測量是保障電路性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)兩線法因引線電阻和接觸電阻的干擾,在測量1Ω以下電阻時(shí)誤差顯著,而四線測量法(開爾文法)通過分離電流路徑與電壓采樣路徑,有效消除了這類干擾,成為低阻值測試的首選方案。本文將系統(tǒng)闡述四線測量法的操作規(guī)范,結(jié)合實(shí)際案例與理論分析,為工程師提供可落地的技術(shù)指南。
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