引言 存儲測試系統(tǒng)的上電方式是一個非常重要的環(huán)節(jié)。許多測試都是在保溫一定時間后進行的,而測試裝置都是在保溫前放到被測物體中,這就要求在保溫過程中使測試裝置的功耗降到最低,倒置開關(guān)的作用就
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