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分立電阻器檢定

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分立電阻器檢定測試系統(tǒng)的常見誤差來源——熱電動勢

熱電動勢當電路中的不同金屬處于不同溫度時，會形成熱電動勢(EMF)或電壓。為了消除這些不必要的電壓帶來的影響，使用偏置補償電阻測量方法。通常，這個方法在指定的電流源值測量電阻，然后減去電流源設置為零時測得的

測試測量
2018-10-15

測試系統(tǒng) 熱電動勢分立電阻器檢定