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低固定增益差分放大器的噪聲測量
由隨機(jī)小電壓構(gòu)成的噪聲可能很難測量，實(shí)驗(yàn)室儀器本身的噪聲使測量問題進(jìn)一步復(fù)雜化。測量噪聲時(shí)，常常要使用專門的技 術(shù)。例如，放大器通常配置為高閉環(huán)增益，以使放大輸入噪聲便于測量。但是，低固定
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