-
可測(cè)試性設(shè)計(jì)（DFT）實(shí)現(xiàn)：掃描鏈插入與邊界掃描測(cè)試向量生成
在集成電路設(shè)計(jì)復(fù)雜度持續(xù)提升的背景下，傳統(tǒng)功能測(cè)試方法面臨覆蓋率不足、故障定位困難等挑戰(zhàn)?？蓽y(cè)試性設(shè)計(jì)（DFT）通過(guò)在芯片中嵌入測(cè)試結(jié)構(gòu)，顯著提升了故障檢測(cè)效率。本文聚焦掃描鏈插入與邊界掃描測(cè)試向量生成兩大核心技術(shù)，探討其實(shí)現(xiàn)方法與工程應(yīng)用。
-
硬件可測(cè)試性設(shè)計(jì)規(guī)范：保障質(zhì)量與效率的關(guān)鍵
在快速發(fā)展的科技領(lǐng)域，硬件產(chǎn)品的復(fù)雜性和集成度日益提高，這對(duì)硬件的可測(cè)試性提出了更高要求。硬件可測(cè)試性設(shè)計(jì)（DFT, Design for Testability）作為一種重要的設(shè)計(jì)方法，旨在通過(guò)優(yōu)化硬件設(shè)計(jì)，提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本，并確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。本文將深入探討硬件可測(cè)試性設(shè)計(jì)規(guī)范，包括其重要性、設(shè)計(jì)原則、實(shí)施策略以及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。
- 是德科技創(chuàng)新技術(shù)峰會(huì)來(lái)襲，報(bào)名領(lǐng)好禮
- 安富利3kW模擬電源供應(yīng)器（PSU）解決方案開(kāi)發(fā)板來(lái)襲，申請(qǐng)領(lǐng)好禮
- 得捷芯聞解碼視頻研習(xí)站第五期：打造更安全、更智能、更舒適、高續(xù)航的駕乘體驗(yàn)
- FPGA供電應(yīng)用遇挑戰(zhàn)？MPS高性能FPGA供電解決方案幫你破局
- 得捷芯聞解碼研習(xí)站第四期：網(wǎng)絡(luò)安全芯片，讓您的應(yīng)用系統(tǒng)無(wú)懈可擊
- “變現(xiàn)”指南：上傳資料獲三重紅包，親測(cè)有效！
- 《21ic技術(shù)洞察》系列欄目：AI芯紀(jì)元——AI加持，語(yǔ)?助?再進(jìn)化！
