本文討論了射頻和微波開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵問(wèn)題,包括不同的開(kāi)關(guān)種類(lèi),RF開(kāi)關(guān)卡規(guī)格,和有助于測(cè)試工程師提高測(cè)試吞吐量并降低測(cè)試成本的RF開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中需要考慮的問(wèn)題。
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