摘要:現(xiàn)場制作電纜接頭時易產(chǎn)生缺陷,造成電纜后期運行過程中出現(xiàn)擊穿故障,據(jù)此對電纜接頭制作過程中易發(fā)生的幾種缺陷進行了模擬試驗,通過對比內置式局部放電監(jiān)測和實驗室局放儀檢測的局放量來驗證放電情況,為防止后期現(xiàn)場制作電纜接頭出現(xiàn)類似缺陷提供參考。
Littelfuse應用學習社第一期:打造更穩(wěn)定與安全的數(shù)據(jù)中心解決方案
明德?lián)PPCIE視頻教程
stm32 嵌入式從入門到精通
H5進階-PS設計
斯坦福大學開放課程:編程原理
內容不相關 內容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號