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早期檢測

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ADI公司的MEMS加速度計實現結構缺陷的早期檢測

Analog Devices, Inc. (ADI)全球領先的半導體公司最近推出了三軸MEMS加速度計，能以極低的噪聲執(zhí)行高分辨率振動測量，可通過無線傳感器網絡實現結構缺陷的早期檢測。最新ADXL354和ADXL355加速度計的低功耗性能可以延

模擬
2016-10-13

mems 結構缺陷早期檢測