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板級電路內(nèi)建自測試建模技術(shù)研究
1.引言 在工業(yè)現(xiàn)場、國防軍事、航空航天等領(lǐng)域需要利用電路自身資源進(jìn)行快速的故障診斷，即要求電路具有自測試功能。為了使復(fù)雜的電路具有自測試功能必須進(jìn)行專門的可測性分析與設(shè)計[1]。而通過
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