引 言 現場的總線控制系統(FCS)將是新世紀自動控制系統發(fā)展的主流,是繼DCS后新一代的控制系統。現場總線是綜合自動化發(fā)展的需要,同時智能儀器儀表則為現場總線的出現奠定了基礎。 CAN(
針對數字量變換器性能參數的測試工作,以FPGA為控制核心,開展數字量變換器測試系統的設計和研究,并給出系統各模塊的具體設計方法;系統通過USB實現與計算機的通信,能夠產生計算機字信號及相應移
據不完全統計,我國每年因漏電而引起的觸電事故、火災造成數千人死亡和數十億的經濟損失,因此對可以防止漏電火災及人身觸電保護的漏電保護器的性能提出了更高的要求。本文介紹的漏電保護器動作特性
物聯網(IoT)正在成形。希望把無線模塊集成到他們產品中的制造商現在要面對全新的測試需求。美國最大的網絡運營商是第一個公布針對物聯網集成商的明確測試方案的運營商。作為響應,羅德與施瓦茨公司也
隨著電子技術的飛速發(fā)展, 存儲器的種類日益繁多,每一種存儲器都有其獨有的操作時序,為了提高存儲器芯片的測試效率,一種多功能存儲器芯片的測試系統應運而生。本文提出了一種多功能存儲器芯片的測試
緒論無線通信產業(yè)的巨大成長意味著對于無線設備的元器件和組件的測試迎來了大爆發(fā),包括對組成通信系統的各種RF IC 和微波單片集成電路的測試。這些測試通常需要很高的頻率,普遍都在GHz范圍。本文討論
任何電子器件都會產生相位噪聲,而振蕩器是主要的噪聲源。壓控振蕩器(VCO)在自激振蕩或相位鎖定時都會由于噪聲調制產生相位噪聲。這符合相位噪聲指標表示頻譜純度的理論。
是德科技日前宣布,其移動物聯網測試系統中標中國移動研究院項目。該解決方案是以 E7515A UXM 無線測試儀為核心的綜合測試平臺,能夠有效支持中國移動研究院對于移動物聯網產品的功耗、射頻以及定位等方面的測試方案研究以及新技術驗證。
Eagle CDMA2000 導頻發(fā)射機是一款適用于室內/外工程測試的儀表,結構緊湊、便攜性強,既可以輸出連續(xù)波信號也可以輸出調制信號,即模擬實際基站發(fā)射的導 頻信號;該發(fā)射機可用于傳播模型校正、覆蓋測試、及室內覆蓋系統的輔助設計和 工程驗收測試。
這些ECU基于數字技術(MCU、FPGA等器件),要求更深入地了解復雜的定時和信號完整性問題;汽車安全系統采用胎壓監(jiān)測(TPMS)和RFID系統,需要開發(fā)和測量實時RF系統,要能夠高效監(jiān)測汽車操作和狀態(tài)。
信號發(fā)生器在測試系統中有明確規(guī)定的任務:模擬被測設備(DUT)在正常工作時可能遇到的信號。這種信號過去只是正弦波、脈沖或經過模擬調制的信號。但隨著通信格式不斷發(fā)展而不再局限于簡單的調幅(AM)和調頻(FM),對信號發(fā)生器的要求正變得越來越高。
MIL-STD-1553B總線以其高可靠性、實時性、靈活性等優(yōu)點,一直廣泛應用于現代航空、航天、兵器等重要領域。其中作為物理載體的1553B總線電纜,在實際生產以及使用過程中,其物理及電氣性能的評估顯得尤為重要。本文闡述了一種高度集成化的1553B電纜測試系統,實現了1553B總線電纜所需檢驗項目的自動化、高效化測試。
本文基于嵌入式ARM設計的CQT測試系統采用遠程檢測方式,測試終端分布在目標測試地點,并接受來自遠程的監(jiān)控中心的測試任務指令,自動進行測試,再生成報告回送監(jiān)控中心,實驗表明,該方案具有很好的實用性和可靠性。
傳導騷擾抗擾度測試系統是給電子電器設備受到由射頻場感應的傳導騷擾時,建立一個評估抗擾度性能的公用參考。產品完全符合IEC61000-4-6及GB/T17626.6標準要求。
PMM7010機于CISPR16標準,是所有發(fā)射預測試的最佳解決方案,具有測量范圍寬、測量功能多、拓展性好、操作簡便及性價比優(yōu)異等特點。
據不完全統計,我國每年因漏電而引起的觸電事故、火災造成數千人死亡和數十億的經濟損失,因此對防止漏電火災及人身觸電保護的漏電保護器的性能提出了更高的要求。本文介紹的漏電保護器動作特性自動測試系統,可測量漏電保護器的漏電動作電流值、分斷時間和漏電不動作電流值,對提高漏電保護器工作的可靠性提供了主要技術參數,檢測過程具有較高的自動化水平,可對在線運行與非在線運行的漏電保護器進行檢測。
測試與測量界的專家羅德與施瓦茨公司和領先的測試性能解決方案提供商Prisma通信測試公司成功實現了LTE下行5CC載波聚合性能驗證,其中每個載波采用4*4MIMO傳輸技術和256QAM調制方式。這個技術組合可以使數據傳輸速率達到2Gbit/s。R&S將會在巴塞羅那舉辦的世界移動大會上首次向業(yè)界展示該測試設備。
如何滿足充電樁時代大量認證需求?做好的樁該如何通過認證又如何確保穩(wěn)定無誤地運行?本文或可解答你的這些困惑。
全自動高速晶圓級參數測試解決方案面向最新的功率半導體器件, 包括高達3 kV的SiC和GaN
電動汽車的急速發(fā)展為汽車產業(yè)帶來了巨大變革,與之相對應的電力供應課題給了電子測試行業(yè)新的機遇和挑戰(zhàn)。