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測(cè)試覆蓋率

我要報(bào)錯(cuò)

  • 提高DFT測(cè)試覆蓋率的方法

    　伴隨著現(xiàn)代大規(guī)模集成電路制造工藝的快速發(fā)展，設(shè)計(jì)工程師必需直面芯片制造過(guò)程中可能產(chǎn)生的物理缺陷?，F(xiàn)今流行的可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT：Design For Testability)應(yīng)運(yùn)而生，并為保證芯片的良品率擔(dān)任著越