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混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢
掃描測試是測試集成電路的標(biāo)準方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術(shù)，特點是結(jié)果的可預(yù)測性高并且效果不錯。它還能實現(xiàn)精確的缺陷診斷，有助于進行分析并改進。
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