-
BGA失效分析：焊接不良案例深度解析與工藝優(yōu)化策略
球柵陣列（BGA）封裝憑借其高密度引腳和優(yōu)異電性能，已成為5G通信、汽車電子等領(lǐng)域的核心封裝形式。然而，其復(fù)雜的焊接工藝和隱匿性失效模式（如枕頭效應(yīng)、冷焊、IMC層異常等）對產(chǎn)品可靠性構(gòu)成嚴峻挑戰(zhàn)。本文結(jié)合實際案例，系統(tǒng)解析BGA焊接不良的典型模式與優(yōu)化策略。
- 是德科技創(chuàng)新技術(shù)峰會來襲，報名領(lǐng)好禮
- 安富利3kW模擬電源供應(yīng)器（PSU）解決方案開發(fā)板來襲，申請領(lǐng)好禮
- 得捷芯聞解碼視頻研習(xí)站第五期：打造更安全、更智能、更舒適、高續(xù)航的駕乘體驗
- FPGA供電應(yīng)用遇挑戰(zhàn)？MPS高性能FPGA供電解決方案幫你破局
- 得捷芯聞解碼研習(xí)站第四期：網(wǎng)絡(luò)安全芯片，讓您的應(yīng)用系統(tǒng)無懈可擊
- “變現(xiàn)”指南：上傳資料獲三重紅包，親測有效！
- 《21ic技術(shù)洞察》系列欄目：AI芯紀元——AI加持，語?助?再進化！
