-
片式膜電阻器過電應(yīng)力失效模式及機(jī)理研究
摘 要：通過對片式膜電阻器在不同環(huán)境條件下進(jìn)行的過電應(yīng)力試驗，研究了其過電應(yīng)力失效模式及失效機(jī)理，為指導(dǎo)用戶正確選用片式膜電阻器提供了參考，同時提高了片式膜電阻器的使用可靠性。
- AMD 2026技術(shù)日4月2日登陸北京，21ic邀你來報名
- 《21ic技術(shù)洞察》系列欄目第二期：工業(yè)自動化中的AI視覺系統(tǒng)
- 歐姆龍電子樣品商城小程序來襲，找樣品不用等！現(xiàn)貨供應(yīng)+全場包郵
- Littelfuse應(yīng)用學(xué)習(xí)社第一期：打造更穩(wěn)定與安全的數(shù)據(jù)中心解決方案
- 安富利3kW模擬電源供應(yīng)器（PSU）解決方案開發(fā)板來襲，申請領(lǐng)好禮
- 得捷芯聞解碼視頻研習(xí)站第五期：打造更安全、更智能、更舒適、高續(xù)航的駕乘體驗
- FPGA供電應(yīng)用遇挑戰(zhàn)？MPS高性能FPGA供電解決方案幫你破局
