英國《自然·納米技術》雜志11日在線發(fā)表論文稱,科學家們利用飛秒技術首次成功拍攝到半導體材料內(nèi)部電子狀態(tài)變化。該成果將提供對半導體核心器件前所未有的洞察。自
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