EDA信號完整性分析：從眼圖測量到預加重參數調優(yōu)實踐

在高速數字電路設計中，信號完整性（SI）是確保系統(tǒng)可靠性的核心要素。眼圖測量作為評估信號質量的關鍵工具，能夠直觀反映碼間串擾、噪聲和抖動對信號的影響。而預加重技術作為補償高頻損耗的核心手段，其參數調優(yōu)直接影響眼圖張開度與系統(tǒng)誤碼率。本文結合EDA工具鏈，系統(tǒng)闡述從眼圖測量到預加重參數優(yōu)化的完整實踐路徑。

顯示設備信號完整性分析：眼圖測量與高速串行總線優(yōu)化

在顯示技術向8K/16K超高清、高刷新率與曲面柔性化演進的過程中，高速串行總線已成為驅動數據傳輸的核心引擎。然而，當信號速率突破10Gbps閾值時，信號完整性（Signal Integrity, SI）問題成為制約顯示性能的關鍵瓶頸。眼圖測量與高速串行總線優(yōu)化技術的協(xié)同創(chuàng)新，正在重塑顯示設備信號傳輸的可靠性邊界。

眼圖測量的區(qū)別

之前與大家分享了關于XXK示波器測量眼圖速度特別特別慢之后收到一位熱心朋友的郵件，他說他剛用XXK示波器試了一下，發(fā)現其測量眼圖的速度沒有我說的那么慢。我 于是問他測量的眼圖中包括了多少個比特位(UI），遺憾的

信號完整性分析基礎系列之二--關于眼圖測量（下）