我在測試具有內(nèi)置輸入過壓 (OV) 和欠壓 (UV) 保護(hù)功能的新 IC 時發(fā)現(xiàn)自己正好處于這種情況。 為了證明這些特性的功能,需要非常具體的 V IN波形。
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