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JTAG調(diào)試器在嵌入式軟件調(diào)試中的深度應(yīng)用——硬件斷點(diǎn)設(shè)置與內(nèi)存讀寫監(jiān)控技巧
在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中，傳統(tǒng)軟件斷點(diǎn)依賴指令替換，易受優(yōu)化代碼或ROM存儲(chǔ)限制，而JTAG調(diào)試器通過硬件斷點(diǎn)與內(nèi)存監(jiān)控功能，可突破這些瓶頸，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)調(diào)試。本文結(jié)合ARM Cortex-M與RISC-V架構(gòu)實(shí)踐，解析JTAG在復(fù)雜場景下的深度應(yīng)用技巧。
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