半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決于體摻雜,在器件中,電阻率會影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓。
Littelfuse應用學習社第一期:打造更穩(wěn)定與安全的數(shù)據(jù)中心解決方案
PCB電路設計從入門到精通
微信小程序全方位認知教程
Makefile工程實踐第01季:從零開始一步一步寫項目的Makefile
PID算法
內(nèi)容不相關 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務 | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號