直流電子負(fù)載應(yīng)用量很大,其主要通過模擬實(shí)物負(fù)載和負(fù)載波形,既可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電源供應(yīng)器規(guī)格特性的測(cè)試,也可作為ATE或ATS系統(tǒng)的組成單元,在線對(duì)充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數(shù)特性進(jìn)行測(cè)試。
ADI數(shù)據(jù)中心白皮書搶先看,測(cè)試領(lǐng)紅包
ARM開發(fā)進(jìn)階:深入理解調(diào)試原理
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