利用機(jī)器學(xué)習(xí)加快TEM樣品制備
4月20日,賽默飛宣布推出Helios 5 EXL晶片雙束透射電子顯微鏡,旨在滿足半導(dǎo)體廠商隨著規(guī)模化經(jīng)營而不斷增加的樣品量以及相應(yīng)的分析需求。
新一代儀器提升數(shù)據(jù)可靠性,控制圖像畸變≤1%。
ADI數(shù)據(jù)中心白皮書搶先看,測試領(lǐng)紅包
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