在電子設(shè)備廣泛應(yīng)用的當(dāng)下,開(kāi)關(guān)電源作為能量轉(zhuǎn)換的核心部件,其電磁兼容性(EMC)直接影響設(shè)備整體性能與周邊環(huán)境安全。其中,輻射騷擾作為開(kāi)關(guān)電源 EMC 問(wèn)題的主要表現(xiàn)形式,不僅可能導(dǎo)致設(shè)備自身故障,還會(huì)干擾其他電子設(shè)備的正常運(yùn)行,甚至違反國(guó)際國(guó)內(nèi)相關(guān)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)。因此,深入分析開(kāi)關(guān)電源輻射騷擾的產(chǎn)生機(jī)制,并制定有效的抑制策略,成為電子工程領(lǐng)域的重要研究課題。
關(guān)于手機(jī)電磁兼容測(cè)試,你知道什么?本文針對(duì)手機(jī)電磁兼容測(cè)試中經(jīng)常出現(xiàn)的問(wèn)題,包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行了分析,并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。