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安捷倫近場電磁干擾源探測定位解決方案
概述 如果一個(gè)新產(chǎn)品在電磁干擾（EMI）預(yù)兼容測試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測試中失敗，進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。而近場探頭配合頻譜分析儀查找干擾源，并驗(yàn)證改進(jìn)效果是最常見易行的方法。 ▲圖一
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