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某型導(dǎo)彈發(fā)射裝置隨動測試故障分析解決方案
摘要：就某型導(dǎo)彈發(fā)射裝置中1553B總線通信異常導(dǎo)致的隨動測試故障進行了分析，給出了該隨動測試故障形成的原因，同時給出了這種故障的糾正解決方案及其有效，性驗證結(jié)果。
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電路系統(tǒng)中的閂鎖效應(yīng)及其預(yù)防設(shè)計
摘要：針對CMOS集成電路的閂鎖效應(yīng)，圍繞實際應(yīng)用的電路系統(tǒng)中易發(fā)生閂鎖效應(yīng)的幾個方面進行了詳細說明，提出了采用嚴格的上電時序、基于光耦的電路隔離設(shè)計和熱插拔模塊的接口方法，可以有效地降低發(fā)生閂鎖效應(yīng)的概
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