建筑物的形狀和大小是通過其特征點(diǎn)在實(shí)地上表示出來的。如建筑物的中心、四個(gè)角點(diǎn)、轉(zhuǎn)折點(diǎn)等。因此點(diǎn)放樣是建筑物和構(gòu)筑物放樣的基礎(chǔ)。用RTK進(jìn)行點(diǎn)位放樣同傳統(tǒng)放樣一樣,需要兩個(gè)以上的控制點(diǎn),用控制點(diǎn)進(jìn)行點(diǎn)校正,在無光學(xué)通視(電磁波通視)的條件下進(jìn)行點(diǎn)位的放樣。
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