本文將重點(diǎn)考察EMI和RFI測(cè)試。由于測(cè)試難度和測(cè)試成本,這個(gè)階段經(jīng)常被忽略。但是,隨著設(shè)計(jì)期限的迫近,忽略這個(gè)步驟可能會(huì)導(dǎo)致意外事件和延遲。我們強(qiáng)烈推薦在設(shè)計(jì)早期測(cè)試EMC問(wèn)題,以避免不必要的
Littelfuse應(yīng)用學(xué)習(xí)社第一期:打造更穩(wěn)定與安全的數(shù)據(jù)中心解決方案
IT001系統(tǒng)化學(xué)習(xí)與碎片化學(xué)習(xí)
C 語(yǔ)言表達(dá)式與運(yùn)算符進(jìn)階挑戰(zhàn):白金十講 之(10)
Allegro 高速PCB設(shè)計(jì)軟件使用技巧
手把手教你學(xué)STM32--M7(入門篇)
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯(cuò)誤 其它
本站介紹 | 申請(qǐng)友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠(chéng)聘英才
ICP許可證號(hào):京ICP證070360號(hào) 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號(hào)