高電阻測量已成為多種測試應用的組成部分,包括印制電路板的表面電阻(SIR)測試、絕緣材料和半導體的電阻率測量、高歐姆值電阻的電壓系數測試等。確保高電阻測量(即高于1GW [109歐姆]的電阻)的精度需
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