在新能源汽車電控系統(tǒng)、5G基站等高密度電子設(shè)備中,BGA(球柵陣列)封裝憑借其引腳密度高、信號傳輸快等優(yōu)勢,已成為芯片與PCB(印刷電路板)連接的核心技術(shù)。然而,BGA錫球與銅基板界面處形成的界面合金共化物(IMC,Intermetallic Compound),卻如同一把“雙刃劍”——既是焊接強度的保障,也是失效的潛在源頭。
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