在先進(jìn)工藝節(jié)點(如7nm及以下)的FPGA/ASIC設(shè)計中,布局布線階段的擁塞(Congestion)問題已成為制約時序收斂與良率的關(guān)鍵因素。通過EDA工具生成的Congestion Map可視化分析,結(jié)合針對性繞線策略調(diào)整,可顯著提升設(shè)計可布線性。本文以Cadence Innovus和Synopsys ICC II為例,解析擁塞優(yōu)化實戰(zhàn)方法。
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