車規(guī)級芯片HALT/HASS測試：多應(yīng)力耦合加速老化模型構(gòu)建

車規(guī)級芯片作為汽車電子系統(tǒng)的核心部件，其可靠性直接關(guān)系到汽車的安全性和性能。HALT（高加速壽命試驗(yàn)）和HASS（高加速應(yīng)力篩選）測試是提高車規(guī)級芯片可靠性的重要手段。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，芯片往往受到多種應(yīng)力的耦合作用，如溫度、濕度、振動(dòng)等。因此，構(gòu)建多應(yīng)力耦合加速老化模型對于準(zhǔn)確評估車規(guī)級芯片的可靠性具有重要意義。