基于失效物理（PoF）的可靠性設(shè)計方法詳解

在電子設(shè)備日益復雜、應用環(huán)境日趨嚴苛的今天，傳統(tǒng)可靠性設(shè)計方法已難以滿足現(xiàn)代產(chǎn)品對長壽命、高穩(wěn)定性的需求。特別是汽車電子領(lǐng)域，產(chǎn)品需在振動、溫度循環(huán)、濕度等復合應力下保持15萬英里行駛里程和10年使用壽命，傳統(tǒng)“設(shè)計-構(gòu)建-測試-整改”的試錯模式成本高昂且效率低下。在此背景下，基于失效物理(Physics of Failure, PoF)的可靠性設(shè)計方法應運而生，成為突破可靠性瓶頸的關(guān)鍵技術(shù)。該方法通過揭示材料、器件和系統(tǒng)的失效機理，建立物理模型預測產(chǎn)品壽命，實現(xiàn)了從“經(jīng)驗驅(qū)動”到“機理驅(qū)動”的范式轉(zhuǎn)變。