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基于斷言（SVA）的形式驗(yàn)證：無(wú)測(cè)試向量下的深層邏輯Bug探測(cè)術(shù)
在復(fù)雜數(shù)字電路設(shè)計(jì)中，傳統(tǒng)仿真驗(yàn)證需要編寫(xiě)海量測(cè)試向量，卻仍可能遺漏邊界場(chǎng)景。形式驗(yàn)證技術(shù)通過(guò)數(shù)學(xué)方法窮舉所有可能狀態(tài)，而斷言（SystemVerilog Assertions, SVA）作為其核心工具，能在不依賴測(cè)試向量的情況下精準(zhǔn)定位深層邏輯錯(cuò)誤。本文結(jié)合實(shí)際案例，揭示SVA在硬件驗(yàn)證中的獨(dú)特價(jià)值。
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