摘要:以TI公司生產(chǎn)的集成運放THS4271為基礎(chǔ)搭建實驗測試電路,在定義的條件下實驗,分別測量了運放的輸入失調(diào)電壓UIO,輸入失調(diào)電流IIO,共模抑制比CMRR,開環(huán)差模放大倍數(shù)AUd等主要參數(shù)。同時對測量的數(shù)據(jù)對應的相
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