電解電容會隨時間而泄漏。圖1中的電路可以用來測試電容,決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試,從1nF的陶瓷電容,到1000μF的電解電容。電路中,CREF的值接近于待測電容值CX。另外也可以用旋轉(zhuǎn)切換的方法選擇RREF,使之大于或小于22 MΩ。
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