基于J750EX測試系統(tǒng)的SRAM VDSR32M32測試技術(shù)研究

VDSR32M32是珠海歐比特公司自主研發(fā)的一種高速、大容量的靜態(tài)隨機器(SRAM)用其對大容量數(shù)據(jù)進行高速存取。本文首先介紹了該芯片的結(jié)構(gòu)和原理，其次詳細(xì)闡述了基于J750測試系統(tǒng)的測試技術(shù)研究，提出了采用J750EX測試系統(tǒng)的DSIO及其他模塊實現(xiàn)對SRAM VDSR16M32進行電性測試及功能測試。另外，針對SRAM的關(guān)鍵時序參數(shù)，如TAA（地址變化到數(shù)據(jù)輸出有效時間）、TACS(片選下降到數(shù)據(jù)輸出有效時間)、TOE（讀信號下降到數(shù)據(jù)輸出有效時間）等，使用測試系統(tǒng)為器件施加適當(dāng)?shù)目刂萍?，完成SRAM的時序配合，從而達到器件性能的測試要求。