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ALTECC_DECODER IP核的IEEE 1500 Wrapper設計
摘要 IP核的廣泛應用提高了電路集成的效率。由于眾多功能各異的IP核集成在電路中，完善的測試機制是確保其正常工作的前提。因此，如何對IP核進行測試成為復用IP核技術必須解決的問題。IEEE Std 1500提供了IP核的測試
摘要 IP核的廣泛應用提高了電路集成的效率。由于眾多功能各異的IP核集成在電路中，完善的測試機制是確保其正常工作的前提。因此，如何對IP核進行測試成為復用IP核技術必須解決的問題。IEEE Std 1500提供了IP核的測試
