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用2600系列數(shù)字源表進行IDDQ測試和待機電流測試

CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機”)電源電流用于驗證生產(chǎn)測試質量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測

測試測量
2015-03-05

2600 iddq 數(shù)字源表

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