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淺談嵌入式系統(tǒng)測試JTAG技術(shù)各個階段
IEEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或“dot 1”)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數(shù)復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種方法，本文將探討在不同年代的系統(tǒng)開發(fā)與設(shè)計中是如何使用JTAG的，通過借助過去有關(guān)JTAG接入的經(jīng)驗或投入，推動設(shè)計向新一代發(fā)展。
