基于J750EX測(cè)試系統(tǒng)的SRAM VDSR32M32測(cè)試技術(shù)研究

VDSR32M32是珠海歐比特公司自主研發(fā)的一種高速、大容量的靜態(tài)隨機(jī)器(SRAM)用其對(duì)大容量數(shù)據(jù)進(jìn)行高速存取。本文首先介紹了該芯片的結(jié)構(gòu)和原理，其次詳細(xì)闡述了基于J750測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)研究，提出了采用J750EX測(cè)試系統(tǒng)的DSIO及其他模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)SRAM VDSR16M32進(jìn)行電性測(cè)試及功能測(cè)試。另外，針對(duì)SRAM的關(guān)鍵時(shí)序參數(shù)，如TAA（地址變化到數(shù)據(jù)輸出有效時(shí)間）、TACS(片選下降到數(shù)據(jù)輸出有效時(shí)間)、TOE（讀信號(hào)下降到數(shù)據(jù)輸出有效時(shí)間）等，使用測(cè)試系統(tǒng)為器件施加適當(dāng)?shù)目刂萍?lì)，完成SRAM的時(shí)序配合，從而達(dá)到器件性能的測(cè)試要求。