羅德與施瓦茨業(yè)務(wù)發(fā)展工程師馬 磊
安捷倫高級(jí)市場(chǎng)工程師黃 萍
萊特波特(LitePoint)蜂窩移動(dòng)通信測(cè)試產(chǎn)品市場(chǎng)經(jīng)理Adam Smith
NI射頻與無(wú)線通信市場(chǎng)開(kāi)發(fā)經(jīng)理
姚 遠(yuǎn)
LTE發(fā)射機(jī)ACLR性能的測(cè)量技術(shù)
相鄰信道泄漏功率比ACLR 是 LTE 射頻發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試中的一個(gè)重要的發(fā)射機(jī)特性。這些測(cè)試的目的是驗(yàn)證被測(cè)件是否達(dá)到了基站(eNB)和用戶設(shè)備(UE)中的最低要求。裝有 LTE 特定信號(hào)生成軟件的信號(hào)發(fā)生器、裝有 LTE 特定測(cè)量軟件的現(xiàn)代化信號(hào)分析儀,以及針對(duì)該分析儀優(yōu)化的方法,可以幫助測(cè)試人員戰(zhàn)勝這一挑戰(zhàn)。
射頻波束賦形技術(shù)改善TD-LTE蜂窩小區(qū)邊緣性能
使用多天線波束賦形發(fā)射技術(shù)可以發(fā)揮關(guān)鍵的改善作用,尤其是對(duì)TD-LTE網(wǎng)絡(luò)而言,因?yàn)樵谠?網(wǎng)絡(luò)中上下行鏈路頻率是相同的,可以假設(shè)信道互易。波束賦形的主要測(cè)試挑戰(zhàn)是需要驗(yàn)證和顯示物理射頻天線陣列的波束賦形信號(hào)性能,以便對(duì)以下指標(biāo)進(jìn)行驗(yàn)證:1、eNB 射頻天線校準(zhǔn)精度;2、基帶編碼波束賦形加權(quán)算法正確性;3、射頻天線處的MIMO信號(hào)和雙層EVM。
MIMO的多變催生多種測(cè)試解決方案
多入多出(MIMO)天線系統(tǒng)的多樣性和持續(xù)發(fā)展特性迫使測(cè)試公司要努力走在行業(yè)要求的前面。根據(jù)完成測(cè)試的場(chǎng)所不同,從學(xué)術(shù)和行業(yè)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室到產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證和制造,或是從IC到基站到手機(jī),具體要求都有相當(dāng)大的變化。研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中驗(yàn)證尖端性能的最新測(cè)試測(cè)量技術(shù),以及針對(duì)美國(guó)和其它地區(qū)的高成本效益生產(chǎn)測(cè)試近來(lái)都在發(fā)生變化。
利用ACK應(yīng)答測(cè)量WLAN接收機(jī)指標(biāo)的方法介紹
WLAN設(shè)備接收機(jī)測(cè)試傳統(tǒng)的方法是儀表發(fā)射一定數(shù)量的數(shù)據(jù)包后,查詢DUT正確接收的數(shù)量,然后計(jì)算誤包率。這種方法需要有查詢DUT的操作,不僅需要DUT的控制指令或軟件支持,而且增加了實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜度和時(shí)間開(kāi)銷。萊特波特公司W(wǎng)LAN測(cè)試儀IQxel創(chuàng)新的提出利用IEEE802.11規(guī)范中定義的ACK應(yīng)答機(jī)制測(cè)量接收機(jī)指標(biāo)的方法,不僅簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程,也提高了測(cè)試效率。
以軟件為核心的無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與應(yīng)用
NI提出的基于PXI的無(wú)線測(cè)試平臺(tái)提供了一種"打破常規(guī)"的解決思路。即使用基于PXI的模塊化射頻組件,用戶通過(guò)軟件定義儀器的功能,并實(shí)現(xiàn)自定義的無(wú)線測(cè)試應(yīng)用。針對(duì)快速演進(jìn)的通信協(xié)議,基于NI PXI的無(wú)線測(cè)試方案,只需要升級(jí)與之相對(duì)應(yīng)的最新無(wú)線工具包,即可進(jìn)行最新標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試。
LTE測(cè)試技術(shù)進(jìn)步顯著 未來(lái)仍面臨三重關(guān)
LTE網(wǎng)絡(luò)、2G和3G網(wǎng)絡(luò)將長(zhǎng)期共存,共同發(fā)展,多模、多制式、多頻的融合也是運(yùn)營(yíng)商建設(shè)LTE網(wǎng)絡(luò)的基本策略之一。經(jīng)過(guò)業(yè)界的持續(xù)努力與實(shí)驗(yàn)網(wǎng)的驗(yàn)證,LTE網(wǎng)絡(luò)測(cè)試領(lǐng)域已取得了很大進(jìn)步。但在多網(wǎng)協(xié)同的發(fā)展方向上,仍面臨諸多挑戰(zhàn),需要進(jìn)一步積極應(yīng)對(duì)。
從芯片研發(fā)到終端生產(chǎn),從網(wǎng)絡(luò)部署到服務(wù)保證,LTE的測(cè)試需要多種儀器,下面是市場(chǎng)上的部分測(cè)試儀器。

安捷倫E7515A無(wú)線綜測(cè)儀
NI LTE測(cè)量套件
安捷倫便攜頻譜儀
艾法斯LTE-A基站測(cè)試儀
羅德與施瓦茨VoLTE測(cè)試解決方案
萊特波特IQxel-M8
- R&S CMW500的新特性助力手機(jī)開(kāi)展LTE-A和VoLTE測(cè)試
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- LitePoint推出在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試LTE蜂窩設(shè)備的新解決方案
- LitePoint:掀起智能終端測(cè)試革命
- NI推出新一代軟件定義儀器:200MHz矢量信號(hào)收發(fā)儀 可滿足802.11ac、160MHz WLAN和LTE Advanced等新標(biāo)準(zhǔn)
- 安立公司多測(cè)試系統(tǒng)在LTE Advanced載波聚合的GCF認(rèn)證中取得領(lǐng)先地位
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