本文中，小編將對光譜分析儀予以介紹，如果你想對光譜分析儀的詳細情況有所認識，或者想要增進對光譜分析儀的了解程度，不妨請看以下內(nèi)容哦。

一、如何有效使用手持式光譜分析儀

手持式光譜儀為各行各業(yè)的工人提供了極大的便利，操作員可根據(jù)需要進行現(xiàn)場分析和原位分析等測試。也是目前在國內(nèi)廣泛生產(chǎn)和使用的儀器。

手持式分析儀利用X射線熒光光譜原理通過一系列X光管發(fā)射X射線并激發(fā)被分析的合金，使合金的內(nèi)部原子產(chǎn)生能量和一定程度的二次釋放X射線。我們通過探測機器捕獲二次射線，然后開始使用能量光譜進行成分分析和測試，并獲得準確精準的分析測試結果。

手持式光譜分析儀可以用非常小的射線取代放射性同位素，解決了更換代資源和放射性擴散的問題。它具有體型小重量輕，且易于使用的測量性特點，包括有害元素的分析儀，金牌號分析儀，土壤分析儀，貴金屬分析儀和礦石分析儀等型號。手持合金式分析儀采用小功率一體化微型光管，以功率小和效率高等優(yōu)點，將手持型合金分析探測器的測試性能提升到高。

手持式合金分析儀使用高分辨率作為主機，并使用各種微型多道分析器專利技術進行結構測試。該儀器使用方便靈活，可在任何惡劣環(huán)境下正常使用。使用專業(yè)軟件，針對性地進行地質礦樣元素的檢測和應用軟件，具有靈敏度高，測試時間短，操作簡便，操作人員專業(yè)限制少等特點，可快速識別礦物質，發(fā)揮多元素自動定量模式，技術指標嚴格控制，安全性很高。

二、準確使用光譜分析儀，請避免這幾個問題

1、 激發(fā)臺

清洗激發(fā)臺的內(nèi)表面，主要是避免殘留內(nèi)壁的粉塵放電影響分析結果。通常每激發(fā)100—200次應清理一次。電極與激發(fā)面之間的距離，必須按極距要求調(diào)整好，如果與激發(fā)面的距離太大，試樣不易激發(fā)，如果電極與激發(fā)面的距離太小，曝光時放電電流太大，以至于與儀器各參數(shù)不相匹配，使測定結果與實際結果之間有差異，影響測定的準確性。因此必須將電極與激發(fā)面的距離調(diào)整準確，清洗激發(fā)臺和電極后一定要重視這個問題。

2、 工作曲線的校正

光電直讀光譜儀法雖然不受感光板限制，但工作曲線繪制成后，經(jīng)過一段時間曲線也會變動。例如：透鏡的污染、對電極的玷污、溫濕度的變化、氬氣的影響、電源的波動等，均能使曲線發(fā)生變化。原始曲線圖中A的位置，經(jīng)過一段時間后，曲線可能漂移到B的位置.為了使用曲線進行分析必須設法將曲線B恢復到曲線A的位置.為此必須對工作曲線進行標準化。在進行曲線標準化必須注意以下幾點：

(1)在清洗樣品激發(fā)臺后必須先激發(fā)10次以上或通氬氣一個小時后才能做日常標準化工作。

(2)標準化的樣品要均勻，制樣要仔細，樣品的表面平整，紋路清淅。分析間隙準確，樣品架保持清潔。

(3)標準化頻率是根據(jù)分析樣品的多少來定，一般情況一天必須標準化兩次。

3、控制試樣

在實際工作中，由于試樣和標準樣品的冶金過程和某些物理狀態(tài)的差異，常常使工作曲線發(fā)生變化，通常標準樣品多為鍛造和軋制狀態(tài)，而日常分析為澆鑄狀態(tài)。為了避免試樣因冶金狀態(tài)變化給分析結果帶影響，常常應使用一個與分析試樣冶金狀態(tài)和物理狀態(tài)都一樣的控樣，來控制分析結果，控樣的元素含量應位于工作曲線含量范圍內(nèi)，并與分析試樣的含量越接近越好。同時，控制樣品的元素含量應當準確可靠，成份分布均勻，外觀無氣孔、砂眼、裂紋等物理缺陷。

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