電阻或電阻率測量需要兩根或四根線。兩線電阻測量是最常用方法，通常使用手持萬用表完成。今天的數(shù)字萬用表對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用來說都相當(dāng)準(zhǔn)確。

萬用表向未知電阻施加非常小的直流電流，并測量電阻兩端的電壓降，以歐姆為單位顯示結(jié)果。引線和觸點(diǎn)有一些電阻，這包含在結(jié)果中。只要引線和觸點(diǎn)的電阻低于被測樣品的電阻，則可以忽略引線或觸點(diǎn)的電阻，測得的電阻將是樣品的電阻。

為了提高兩線設(shè)置的準(zhǔn)確性，實(shí)驗(yàn)室萬用表可以在移除樣品的情況下測量電路內(nèi)引線和觸點(diǎn)的電阻。然后，儀表可以在測量測試樣本時(shí)將該值歸零，以獲得樣本的實(shí)際值。

四線電阻測量是測量非常小的電阻的最準(zhǔn)確方法。電流和電壓施加在兩個(gè)獨(dú)立的電路中，也稱為源電路和感應(yīng)電路。這被稱為開爾文橋，經(jīng)常使用特殊的開爾文夾。Kelvinclips 通常是鍍金的，兩根正極線在接觸點(diǎn)電分離，兩根負(fù)極線在接觸點(diǎn)電分離。源電路向試樣施加已知電流。感測電路測量樣品兩端的電壓。給定來自源的已知電流，儀表然后可以計(jì)算并顯示電阻。這具有消除引線和觸點(diǎn)中大部分電阻的效果。如果測試夾具與四線電路一起使用，

接觸電阻可以通過先用兩線探針測量相同面積的測試樣品，然后用四線開爾文電橋測量，然后減去差值來求得。差值等于接頭中的接觸電阻。

重要因素

在相應(yīng)的測試方法中詳細(xì)說明了電氣測試程序的樣品制備。任何污染、氧化或表面不規(guī)則都會(huì)影響測試結(jié)果。溫度也必須考慮在內(nèi)。電子在不同的溫度下以不同的速度運(yùn)動(dòng)。不同元素的溫度效應(yīng)不同。金屬在加熱時(shí)會(huì)增加電阻率。隨著溫度的升高，半導(dǎo)體通常會(huì)失去電阻率。

復(fù)合材料和疊片對(duì)電阻率測試提出了特殊挑戰(zhàn)。濕度肯定會(huì)影響表面電阻率測量，并且取決于材料的吸水趨勢，尺寸和電阻值可能會(huì)受到影響。

在墊片和粘合劑等一些材料中，雖然化合物可能通過材料具有很強(qiáng)的導(dǎo)電性，但導(dǎo)電懸浮顆粒的相對(duì)隔離會(huì)阻止線性電阻測量。這些材料被認(rèn)為是各向異性的。這些粘合劑廣泛用于柔性電路和某些太陽能電池板應(yīng)用。對(duì)于這些材料，不能應(yīng)用真正的體積電阻法。

在一個(gè)電路中，或者當(dāng)多個(gè)電阻器或?qū)щ姴牧显趩蝹€(gè)路徑中連接到地或儀表時(shí)，該測量稱為串聯(lián)電阻測量。電阻是通過加總所有電阻來計(jì)算的。太陽能電池是串聯(lián)電路的一個(gè)例子。在這種情況下，單位表示為 ?©-cm 2。

電阻率測量示例

不到 25 年前，當(dāng)大多數(shù)電氣產(chǎn)品都是高電壓且體積龐大時(shí)，材料的電阻和電導(dǎo)不需要非常精確。當(dāng)今電子應(yīng)用的小型化和低功率效率正在推動(dòng)電阻率測量。您不能自動(dòng)假設(shè)規(guī)格表提供了滿足每個(gè)應(yīng)用程序所需的準(zhǔn)確信息。一個(gè)典型的測試可以從在多個(gè)隨機(jī)位置測量已知絕緣體的表面或體積電阻率開始，以確認(rèn)供應(yīng)商的樣品在數(shù)據(jù)表中指定的范圍內(nèi)并且材料是正確的。

電阻是太陽能電池板制造商的關(guān)鍵測量值。太陽能電池板的額定功率取決于它可以產(chǎn)生多少功率。太陽能電池板電路中的每個(gè)組件，從光伏收集器到終端端子，要么有助于電流的傳導(dǎo)，要么有助于隔離承載該電力的電流。在完成的面板中對(duì)此進(jìn)行的總測量稱為串聯(lián)電阻測量。每個(gè)成分都有助于這種阻力的累積效應(yīng)。

電路中的電阻越高，面板消耗的能量越多，產(chǎn)生的功率就越少。電路中的串聯(lián)電阻既包括導(dǎo)體固有的“體”電阻，又包括母線帶和元件之間的“接觸”電阻。這代表了電阻測量的低端。在高端，還必須測量絕緣體，包括外殼和包含太陽能電池板導(dǎo)電組件的面板的其他部分，以確保它們防止電流泄漏，從而防止功率損失。通常測量絕緣體的“表面電阻率”。

電阻率測量至關(guān)重要的另一個(gè)應(yīng)用是 ESD(靜電放電)防護(hù)。某些電子、運(yùn)輸和軍事/航空航天應(yīng)用要求材料具有導(dǎo)電性，以便將 ESD 產(chǎn)生的電流從關(guān)鍵的低功率電路中汲取。體電阻或表面電阻測試可讓您測量材料防止電路因 ESD 損壞的能力。此外，測量可能揭示問題或問題的解決方案，可以通過選擇更合適的材料來解決，特別是在電子外殼的層壓板或墊片選擇方面。