一直以來，控制器都是大家的關注焦點之一。因此針對大家的興趣點所在，小編將為大家?guī)?a href="/tags/PID控制器" target="_blank">PID控制器的相關介紹，詳細內(nèi)容請看下文。

一、PID控制中存在的問題

有文獻指出，實際工業(yè)中有60%的控制器存在性能方面的問題。而在工業(yè)過程中，導致控制回路性能不佳的原因可以歸結為以下一種或者多種情形：

1)控制器整定不佳且缺少維護。產(chǎn)生這種情況的原因包括：控制器從未被整定或者是基于失配模型的整定，也可能是使用了不當類型的控制器。工業(yè)過程自動控制系統(tǒng)中，90%以上的控制器是PID類型的控制器，即使某些情況下使用其它控制器也許能得到更好的性能。實際上，最常見的導致控制回路性能不佳的原因是控制器缺少維護。經(jīng)過多年的運行，執(zhí)行器和被控對象的動態(tài)特性可能由于磨損等原因而發(fā)生變化。而只有少數(shù)工程師維護控制回路，且操作工與工程師常常對于控制回路性能不佳的原因缺乏認識。

2)設備故障或結構設計不合理。控制回路性能不佳可能是由于傳感器或執(zhí)行器的故障(如過度的摩擦)引起的。如果工業(yè)裝置或者裝置的組件設計不合理，則問題可能更嚴重。這些問題無法通過重新整定控制器而得到有效的解決。

3)缺少或前饋補償不足。若處理不得當，外部擾動會使回路的性能惡化。因此，當擾動可測時，建議使用前饋控制(Feedforvvard Control，F(xiàn)FC)對擾動進行補償。

4)控制結構設計不合理。不合適的輸入/輸出配對，忽略系統(tǒng)變量間的相互耦合，競賽控制器(Competing Controllers)，自由度不足，強非線性的存在，缺乏對大時延的補償?shù)榷伎赡軐е驴刂平Y構問題。

二、PID控制性能評估

通過上面的介紹，想必大家對PID控制器中存在的問題已經(jīng)具備了初步的認識。在這部分，我們主要來了解一下PID控制器的性能問題。

已有文獻指出：在已知過程常規(guī)運行數(shù)據(jù)估計PID控制能實現(xiàn)的最小方差是可行的;對于PID控制，使用PID能實現(xiàn)的最小方差性能作為評價基準，評價結果更趨合理;通過擬合模型后再估計得到的PID控制器參數(shù)能夠明顯減小過程輸出方差。

針對控制系統(tǒng)進行性能監(jiān)控與評估(control performance monitoring/assessment，CPM/CPA)是當今世界過程控制界最受關注的研究方向之一?？刂破餍阅鼙O(jiān)控與評估工作可追溯到20世紀六七十年代Astrom(1967)、DeVrieWu(1978)等人的工作;到1970年，由Box，Jenkins(1976)、Astro最小方差控制(minimum variance control，MVC);1989年Harris(1989)用最小方差控制進行SISO系統(tǒng)方差性能的評估，使得此領域在隨機性能監(jiān)控和評估方面有了開創(chuàng)性的成果和新的目標。從此，CPM/CPA技術吸引了大批控制理論界學者的關注和研究而獲得了快速的發(fā)展。經(jīng)過前人的努力，此技術已經(jīng)發(fā)展成為涉及控制理論、系統(tǒng)辨識、信號處理和概率統(tǒng)計等多門學科的交叉綜合技術，通常被稱作為控制回路的性能監(jiān)控與評估、控制器的性能監(jiān)控與評估、性能評估等。

為了解決工業(yè)系統(tǒng)中PID控制器由于系統(tǒng)時變而導致的所在控制器回路性能下降問題，浙江大學的劉小艷在Edgar提出的PID可達性評估基準的基礎上，提出了一種針對PID控制器進行性能評估、優(yōu)化及監(jiān)控的方法，即：PID循環(huán)評估優(yōu)化算法。該算法利用系統(tǒng)閉環(huán)輸入輸出數(shù)據(jù)進行滑窗在線辨識，使用基于MVC(MinimumVariance Control)的PID最小方差可達性準則對PID控制器性能進行評估，并將計算最小方差意義下最優(yōu)PID控制器參數(shù);將理論最小方差與輸出方差相比，作為PID系統(tǒng)進行在線優(yōu)化的啟停閾值。仿真已證明其有效性。

最后，小編誠心感謝大家的閱讀。你們的每一次閱讀，對小編來說都是莫大的鼓勵和鼓舞。希望大家對PID控制器已經(jīng)具備了初步的認識，最后的最后，祝大家有個精彩的一天。