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[導(dǎo)讀]在電池管理系統(tǒng)(BMS)中,放電MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)作為關(guān)鍵的控制元件,負(fù)責(zé)電池的放電過(guò)程。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,放電MOS常因過(guò)壓而擊穿,導(dǎo)致系統(tǒng)失效甚至安全隱患。本文將從放電MOS的工作原理、過(guò)壓擊穿的原因及預(yù)防措施三個(gè)方面進(jìn)行深入探討。


在電池管理系統(tǒng)(BMS)中,放電MOS(金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)作為關(guān)鍵的控制元件,負(fù)責(zé)電池的放電過(guò)程。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,放電MOS常因過(guò)壓而擊穿,導(dǎo)致系統(tǒng)失效甚至安全隱患。本文將從放電MOS的工作原理、過(guò)壓擊穿的原因及預(yù)防措施三個(gè)方面進(jìn)行深入探討。


一、放電MOS的工作原理

放電MOS在BMS中主要承擔(dān)控制電池放電的任務(wù)。當(dāng)系統(tǒng)需要放電時(shí),控制信號(hào)使放電MOS導(dǎo)通,允許電流從電池流向負(fù)載;當(dāng)需要停止放電時(shí),控制信號(hào)使放電MOS關(guān)斷,切斷電流路徑。放電MOS的導(dǎo)通與關(guān)斷是通過(guò)控制其柵極電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的,這一過(guò)程中,MOS管內(nèi)部的電場(chǎng)分布和電流流動(dòng)狀態(tài)會(huì)發(fā)生顯著變化。


二、過(guò)壓擊穿的原因

放電MOS的過(guò)壓擊穿主要源于以下幾個(gè)方面的因素:


寄生電感的影響:

在BMS電路中,存在著各種寄生電感,如電芯內(nèi)部電感、PCB大功率走線部分的寄生電感以及外部鏈接負(fù)載的導(dǎo)線電感等。當(dāng)放電MOS關(guān)斷時(shí),由于電感的電流不能突變,會(huì)在電感兩端產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)以維持電流。這個(gè)感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)與電池電壓疊加,形成遠(yuǎn)高于電池電壓的瞬態(tài)電壓,直接作用在放電MOS上。如果此電壓超過(guò)MOS的耐壓極限,就會(huì)導(dǎo)致MOS擊穿。

過(guò)流保護(hù)與短路保護(hù):

在BMS系統(tǒng)中,過(guò)流保護(hù)和短路保護(hù)是確保電池安全的重要措施。然而,在保護(hù)動(dòng)作時(shí),放電MOS需要迅速關(guān)斷以切斷電流。由于此時(shí)電流往往非常大,電感上的感應(yīng)電壓也會(huì)非常高,極易導(dǎo)致放電MOS過(guò)壓擊穿。

電路設(shè)計(jì)不合理:

電路設(shè)計(jì)中存在的缺陷也可能導(dǎo)致放電MOS過(guò)壓擊穿。例如,PCB布線不合理引入過(guò)大的寄生電感,或者保護(hù)電路設(shè)計(jì)不當(dāng),未能有效限制瞬態(tài)電壓的上升等。

三、預(yù)防措施

針對(duì)放電MOS過(guò)壓擊穿的問(wèn)題,可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行預(yù)防:


優(yōu)化電路設(shè)計(jì):

在電路設(shè)計(jì)時(shí),應(yīng)充分考慮寄生電感的影響,通過(guò)合理的布線、增加去耦電容等措施來(lái)減小寄生電感。同時(shí),保護(hù)電路的設(shè)計(jì)也應(yīng)更加完善,確保在保護(hù)動(dòng)作時(shí)能夠有效限制瞬態(tài)電壓的上升。

采用抗過(guò)壓元件:

選用具有更高耐壓能力的放電MOS,或者在放電MOS兩端并聯(lián)瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)等抗過(guò)壓元件,以提高電路的抗過(guò)壓能力。

控制關(guān)斷速度:

在放電MOS關(guān)斷時(shí),適當(dāng)控制其關(guān)斷速度,使di/dt(電流變化率)減小,從而降低電感上的感應(yīng)電壓。但需要注意的是,關(guān)斷速度過(guò)慢會(huì)增加MOS的開(kāi)關(guān)損耗,因此需要在性能和損耗之間找到平衡點(diǎn)。

加強(qiáng)靜電防護(hù):

由于MOS管極易受靜電感應(yīng)而帶電,因此在存儲(chǔ)、運(yùn)輸和組裝過(guò)程中應(yīng)加強(qiáng)靜電防護(hù)措施,避免靜電擊穿MOS管。

定期檢測(cè)與維護(hù):

定期對(duì)BMS系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)和維護(hù),及時(shí)發(fā)現(xiàn)并處理潛在的電路故障和安全隱患,確保系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。

綜上所述,放電MOS的過(guò)壓擊穿是BMS系統(tǒng)中一個(gè)不容忽視的問(wèn)題。通過(guò)優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、采用抗過(guò)壓元件、控制關(guān)斷速度、加強(qiáng)靜電防護(hù)以及定期檢測(cè)與維護(hù)等措施,可以有效預(yù)防放電MOS的過(guò)壓擊穿,提高BMS系統(tǒng)的可靠性和安全性。

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