(一)背景

因為flash價格變動，以及設備存儲空間大小的需求變更，經常需要引入新的flash型號，以以往的項目開發(fā)經驗，新flash引入后，較容易出現異常，具體異?？梢姟秐or flash 問題記錄列表》。其中問題原因有可能是flash本身原因，也有可能是我們設備存在干擾，還有可能是我們設備主控與flash器件之間存在兼容性問題。為避免將該類問題流到設備量產階段，需要對新引入的flash器件進行可靠性測試。

所謂低功耗設備，也就是設備是接電池的，不是直接接常電的設備。該類設備的特點就是：電壓容易波動，經常需要開關機，設備有時候還會處于低電量運行。

(二)測試目的

將flash器件問題暴露在選型階段
降低新flash器件型號批量生產風險

(三)可能的影響因素

一般flash器件出現異常，可能的影響因素有下面幾種:

A、用戶代碼對Flash的誤操作不當引起程序丟失或被錯誤改寫

這種情況一般出現在需要經常對flash進行增刪改操作的情況
對于低功耗設備，或是設備經常需要開關機的設備，出現的概率會更高

B、電源失效

電源電壓的異?？赡軙е孪到y(tǒng)工作異常的現象，如輸出電壓小于芯片系統(tǒng)工作所需的最小電壓，輸出電壓不干凈，噪音嚴重等，這些很容易引起芯片內部電路的邏輯紊亂，Flash的讀寫信號處于不穩(wěn)定狀態(tài)?？赡墚a生滿足Flash的寫操作，從而給系統(tǒng)帶來嚴重的損害。

這類問題在低功耗設備上比較經常出現，因為用戶經常忘記充電，電池電壓經常放電到設備不能運行，這中間就有一個不穩(wěn)定的過渡狀態(tài)。
這類問題有個解決方案，就是電池電壓掉到某個電壓值，設備就進入低電模式，這可以避免這類問題的出現。但這可能會引入另外一個問題，就是設備電池電量檢測不是很準，導致設備異常進入低電模式。在電池容量比較小，同時設備功耗波動比較大的條件下，電池的容量是比較難測量準確的。